A.平行于探测面的缺陷
B.与探测面倾斜的缺陷
C.垂直于探测面的缺陷
D.不能用斜探头检测的缺陷
第1题
第2题
A.斜平行扫查
B.串列扫查
C.双晶斜探头前后扫查
D.交叉扫查
第3题
A、横向裂缝
B、夹渣
C、纵向缺陷
D、以上都对
第4题
A、保持灵敏度不变
B、适当提高灵敏度
C、增加大K值探头探测
D、以上B和C
第5题
A.纵向缺陷
B.横向缺陷
C.表面缺陷
D.以上都是
第6题
A、采用不同折射角度的探头
B、提高探测频率
C、修磨探测面宽度
D、改善探测面粗糙度
第7题
A.0.5
B.1
C.2
D.3
第8题
A.探测和评定试件中的各种缺陷
B.探测和确定试样中缺陷的长度,深度和宽度
C.确定试样的抗拉强度
D.探测工件表面的开口缺陷
第9题
第10题
A.夹渣
B.与探测面垂直大而平的缺陷
C.密集气孔
D.未焊透
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