射线探伤时，使用像质计的主要目的是（)。

A.缺陷影像的几何形状

B.缺陷影像的厚度

C.缺陷影像的大小

D.缺陷影像的长度

A.长度

B.厚度

C.大小

D.黑度分布

A.其影像放大得越大，而其几何不清晰度变大

B.其影像放大得越小，而其几何不清晰度变大

C.其影像放大得越大，而其几何不清晰度变小

D.其影像放大得越小，而其几何不清晰度变小

A.对比度

B.不清晰度

C.颗粒度

D.以上都是

A.了解所透照的底片质量好坏

B.了解胶片的本底化学灰雾度

C.确定可检出最小缺陷的尺寸

D.以上都不对

A、当一张胶片上同时透照多条焊接接头时,应在透照区中间和最边缘的焊缝处各放一只像质计

B、单壁透照中像质计放置在胶片侧时，应进行对比试验

C、当像质计放置在胶片侧时，应在像质计上适当位置放置铅字“F”作为标记，F标记的影像应与像质计的标记同时出现在底片上，且应在检测报告中注明

D、小径管可选用通用线型像质计或附录F（规范性附录）规定的专用（等径金属丝）像质计，金属丝应横跨焊缝放置

A、0.8%

B、1.6%

C、2.4%

D、3.2%

A.射线探伤

B.超声波探伤

C.磁性探伤

D.渗入探伤