射线底片上影像所代表的缺陷性质的识别通常可以从缺陷影像的几何形状、（)和位置进行综合分析。

A.缺陷影像的几何形状

B.缺陷影像的厚度

C.缺陷影像的大小

D.缺陷影像的长度

A.测量缺陷的大小

B.缺陷的位置

C.缺陷的几何不清晰度

D.确定透照底片上影像质量

A.其影像放大得越大，而其几何不清晰度变大

B.其影像放大得越小，而其几何不清晰度变大

C.其影像放大得越大，而其几何不清晰度变小

D.其影像放大得越小，而其几何不清晰度变小

A.采用的射线照相技术

B.缺陷性质

C.缺陷尺寸与取向

D.以上都是

A.缺陷的性质和大小

B.缺陷的形状和取向

C.缺陷的回波幅度和超声波传播时间

D.以上都对

A.宽度尺寸较小的细节影像的可识别性

B.影响细小缺陷的可检验性

C.导致影像对比度降低

D.以上都是