恒生流通综合指数系列包括（） A．恒生综合指数 B．恒生流通综合指数 C．恒生香港流通

A．P图的统计基础是泊松分布

B．如果ni变化不大，则采用单一的等于平均子组大小的一组控制线

C．当ni变化较大时，可采用标准化变量的方法

D．若ni不全相等，则p控制图的LCLp和UCLp是凹凸状的

E．p图是控制过程的合格品率p的控制图

A．p控制图的统计控制状态是指过程的不合格品率为一常数p，且各个产品的生产是独立的

B．p图的统计基础是泊松分布

C．如果ni变化不大，则采用单一的等于平均子组大小的一组控制线

D．当ni变化较大时，可采用标准化变量的方法

E．若ni不全相等，则p控制图的LC、LP和UCLp是凹凸状的

A．p控制图的统计控制状态是指过程的不合格品率为一常数p，且各个产品的生产是独立的

B．如果ni变化不大，则采用单一的等于平均子组大小的一组控制

C．当ni变化较大时，可采用标准化变量的方法

D．若ni不全相等，则p控制图的Lc、LP和UCLP是凹凸状的

p图的统计基础是()。

A．正态分布

B．二项分布

C．泊松分布

D．均匀分布

p图的统计基础是()。

A．正态分布

B．二项分布

C．泊松分布

D．均匀分布

A．变量控制图的分布基础是正态分布

B．P图的分布基础是二项分布

C．nP图的分布基础是泊松分布

D．C图的分布基础是泊松分布

A.正态分布

B.二项分布

C.泊松分布

D.以上都不是

A．

B．

C．

D．

A．P图是控制生产过程的加工时间的控制图

B．P图是控制生产过程的不合格品率的控制图

C．P图中的各个子组大小可以不相等

D．P图的统计基础是二项分布

E．P图的统计基础是泊松分布

A．P图是控制生产过程的加工时间的控制图

B．P图是控制生产过程的不合格品率的控制图

C．P图中的各个子组大小可以不相等

D．P图的统计基础是二项分布

E．P图的统计基础是泊松分布