A.衬底掺杂浓度
B.氧化层厚度
C.多晶硅与衬底的功函数差
D.栅极电压
第1题
A、对于NFET,界面的电子浓度等于p型衬底的多子浓度时的栅压VGS
B、若VGS>VTH ,则MOS管导通
C、若VTH=0,则对于最低电压为GND的NMOS器件来说一般不关断
D、在器件制造过程中,通过向沟道区注入杂质可以调整阈值电压VTH0 ,即改变氧化层界面附近衬底的掺杂浓度
E、工艺确定后,VTH0确定,那么设计者再无法改变器件的阈值电压
F、PMOS器件的VGS要足够“负”,才能使其导通。
第2题
A、NFET的阈值电压定义为当界面的电子浓度等于p型衬底的多子浓度时的栅源电压
B、在器件制造过程中,可通过向沟道区注入杂质来调整阈值电压
C、当时,NMOS器件导通
D、若,则 NMOS器件关断
第4题
A、当源与体之间存在衬底偏置电压VSB时,将会使n沟MOS管的阈值电压增大。
B、随着栅电压的不断提高,耗尽区宽度将逐渐增大。
C、阈值电压通常对于NMOS器件是一个正值,对于PMOS器件是一个负值。
D、p型硅衬底的费米势的典型值是-0.3V。
第8题
A、靠近栅极界面的电荷比靠近半导体界面的电荷影响更大
B、靠近半导体界面的电荷比靠近栅极界面的电荷影响更大
C、靠近栅极界面的电荷与靠近半导体界面的电荷的影响相同
D、无法确定
第9题
A、传感器的两个二次绕组的电气参数与几何尺寸不对称
B、磁性材料磁化曲线的非线性
C、励磁电压本身含高次谐波。
D、当铁芯位于线圈中心位置时,输出电压不为0
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