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[单选题]

用直探头在工件端面探测离侧壁极近的小缺陷时，探头最不利的探测位置是（）

A.尽可能靠近侧壁；

B.离侧壁10mm；

C.离侧壁一个探头直径的距离处；

D.离侧壁二个探头直径的距离处。

答案

A、尽可能靠近侧壁；

发布时间：2021-09-29

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更多“用直探头在工件端面探测离侧壁极近的小缺陷时，探头最不利的探测位置是（）”相关的问题

第1题

在探测工件侧壁附近的缺陷时，由于存在着侧壁干扰，所以探伤灵敏度会明显偏低（)

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第2题

在探测工件侧壁附近的缺陷时，由于存在着（)，所以探伤灵敏度会明显偏低。

A.侧壁干扰

B.61°角反射波

C.工件底面不平

D.以上都对

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第3题

双晶直探头倾角越大，交点离探测面距离愈远，覆盖区愈大。（)

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第4题

用直探头探测同一缺陷，探头直径增大时，缺陷波增高，底波高度也会增高（)

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第5题

直探头主要用于探测与探测面平行的缺陷。（)

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第6题

提高近表面缺陷的探测能力应从下面三方面着手：①用TR探头；②使用窄脉冲宽频带探头；③提高探头频率，减小晶片尺寸（)

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第7题

使用TR探头可以提高近表面缺陷的探测能力（)

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第8题

使用TR探头不可以提高近表面缺陷的探测能力（)

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第9题

纵波垂直法探伤中，由于侧壁干涉的结果，侧面壁附近的缺陷，靠近侧壁探测时回波低，远离侧壁探测时回波高。（)

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第10题

纵波垂直法探伤中，由于（)的结果，靠近侧壁探测时缺陷回波低，远离侧壁探测时缺陷回波高。

A.侧壁干涉

B.波的叠加

C.波的绕射

D.波的衍射

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