存储器件ROM的基本结构主要由（)和存储阵列两部分组成。

A．标准贯入试验 B.重型圆锥动力触探试验

C．轻型圆锥动力触探试验 D.超重型圆锥动力触探试验

A．静力触探

B．标准贯入试验

C．圆锥动力触探

D．偏涨试验

A、圆锥动力触探(DPT)和标准贯入试验(SPT)的基本原理一致

B、标准贯入试验实质上是动力触探试验的一种

C、标准贯入试验和圆锥动力触探的区别主要是它的触探头不是圆锥形，而是标准规格的圆筒形探头

D、以上均不对

A．旁压试验

B．静力触探试验

C．圆锥动力触探

D．标准贯入试验

E．扁胀试验

A.标准贯入试验实质上仍属于静力触探类型之一

B. 标准贯入试验根据打入土层中的贯入阻力，可评定土层的变化和土的物理力学性质

C. 标准贯入试验操作简便.设备简单，土层的适应性广

D. 标准贯入试验贯入器可以采取扰动土样，对它进行直接鉴别描述和有关的室内土工试验

A．孔压静力触探；

B． 圆锥动力触探；

C． 标准贯入试验；

D． 预钻式旁压试验

A．标准贯入试验

B．轻便触探试验

C．重型触探试验

D．静力触探试验

A．静力触探

B．标准贯入试验

C．重型或超重型圆锥动力触探

D．十字板剪切试验