当过程输出特性为计数型数据时，测量系统分析一般可以用ABB的方法：当其值小于多少时应采取改善措施，保证测量数据可靠（）

A.集电极扫描信号极性为"＋

B.基极阶梯信号极性为"＋

C.集电极扫描信号极性为"－

D.基极阶梯

A.分析过程的输出并指出其特性

B.保证测量数据的有效性

C.使过程在统计控制情况下成功地进行和维持

D.有系统地减少该过程主要输出特性的变异

A.1

B.-1

C.0

D.零

在全0状态时输出Z=1，其他状态时Z=0。画出实现电路图，说明所用ROM的数据位宽m，地址位宽p，存储单元数目。写出各存储单元的地址和存储数据的表格。

A.计量型测量系统

B.计数型测量系统

C.破坏性测量系统

D.手动测量系统

A.提高反应温度

B.提高系统分压

C.降低温度

D.降低系统压力

A.集电极扫描信号极性为_，基极阶梯信号极性为+

B.集电极扫描信号极性为_,基极阶梯信号极性为_

C.集电极扫描信号极性为+，基极阶梯信号极性为+

D.集电极扫描信号极性为+，基极阶梯信号极性为_

A.集电极扫描信号极性为“-”.基极阶梯信号极性为“+”

B.集电极扫描信号极性为“-”.基极阶梯信号极性为“-”.

C.集电极扫描信号极性为“-”.基极阶梯信号极性为.“+”

D.集电极扫描信号极性为“+”.基极阶梯信号极性为“-”

A.极差是对过程分布宽度的一种测量，在一个子组、样本或总体中，最大值与最小值之间的差

B.中心线，在控制图上的一条线，代表所描点的各项数据的均值

C.单值，一个单独的数值，或对某一特性的一次测量，通常用X表示

D.计数型数据的抽样选择，子组数量要不少于25组以上才能判定其稳定性