A.使隔声层垂直于探头扫查方向;
B.使隔声层与探头扫查方向呈45°夹角;
C.使隔声层平行于探头扫查方向;
D.以上均可
第1题
B.用双晶直探头或单晶直探头测量缺陷时一探头中心点为缺陷边界点
C.用双晶直探头或单晶直探头测量缺陷时,以探头离开缺陷边缘为缺陷边界点
D.底面第一次底波B1<50%满幅,移动探头使底波上升至50%满幅,以探头中心点为缺陷边界点
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