A.探伤速度较快
B.在焦线长度内回波幅度随缺陷长度增大而提高
C.探伤速度较慢
D.聚焦方法一般采用圆柱面透镜或瓦片形晶片
第1题
B．缺陷定量可采用计算法或A.V.G曲线法
C．可不使用试块
D．缺陷定量可不考虑材质衰减差修正
第2题
A. 第二次界面回波落在第一次底波之后
B. 第二次界面回波落在第一次底波之前
C. 第二次界面可处于任何位置
第3题
A. 调节水的粘度
B. 消除水中气泡
C. 提高水的浸润能力
D. 防止水的混浊
第4题
B．错误
第5题
B．减慢探伤速度
C．易于控制声束入射方向
D．易实现自动探伤
第6题
第7题
B．能提高探测速度 、 易于控制声束入射方向及易实现自动探伤
C．易实现自动探伤
D．易于控制声束入射方向
第8题
A. 能提高探测速度
B. 易于控制声束入射方向
C. 易实现自动探伤
D. 以上都是
第9题
第10题
B．对平面和曲面锻件都适用
C．应作耦合及衰减差补偿
D．上述都适用
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