A.拒绝H0
B.不拒绝H0
C.可以拒绝也可以不拒绝H0
D.可能拒绝也可能不拒绝H0
第1题
设分别是两个独立正态总体X和Y的均值,和分别是它们的方差且已知,为了检验,从X和Y中各随机抽取了容量分别是和的样本,分别是这两个样本的样本均值。于是,构造的检验统计量为
A、
B、,其中(下同)
C、
D、
第2题
有两个独立正态总体均未知,从总体X与Y中分别取得容量均为8的独立样本,计算得样本均值分别为和,样本方差分别为和,记,取显著水平为0.05,对于假设,以下哪个结果是正确的?(备用数据:)
A、p_值=0.0096
B、拒绝域为
C、p_值=0.0048
D、p_值=0.0045
E、p_值=0.009
F、拒绝域为
G、拒绝域为
H、拒绝域为
第4题
从两批电子元件中分别随机抽取一些样品,测得它们的电阻(单位:欧姆)如下:批 0.140 0.138 0.143 0.142 0.144 0.137批 0.135 0.140 0.142 0.136 0.138 0.140 假定这两批电子元件的电阻都服从正态分布和.在显著性水平下,用假设检验方法得到的结论是
A、只有
B、只有
C、两总体服从相同的正态分布.
D、两总体服从不相同的正态分布.
第5题
A、设计的检验统计量服从卡方分布
B、设计的检验统计量服从F分布
C、设计的检验统计量服从t分布
D、设计的检验统计量服从标准正态分布
第6题
设X1,X2,...Xn为来自正态总体N(μ,σ1)的样本均值,(X1,X2,...Xn)为来自正态总体N(μ,σ2)的样本均值,两个总体相互独立,如果σ1和σ2为已知,要求检验的假设为H0:μ1=μ2时,所选用的统计量为______;当H0成立时,该统计量服从______分布,如果σ1和σ2未知,但σ1=σ2,要求检验的假设同样为H0:μ1=μ2时,选用的统计量为______;当H0成立时,该统计量服从______分布.
第7题
是正态总体的样本,是样本均值,对于假设:,在显著水平0.05下的检验拒绝域为,则该检验犯第2类错误的概率值是以下结果中的哪一个?备用数据:,,.
A、0.09
B、小于0.1
C、0.95
D、0.91
E、0.74
F、0.26
G、介于0.1~0.25
H、大于0.26
第8题
A、考虑将两样本合并,用两样本的方差的平均值代替总体方差
B、考虑将两样本合并,用合并样本的方差代替总体方差
C、考虑将两样本合并,使用各自样本方差代替总体方差
D、无需将两样本合并,使用各自样本方差代替总体方差
第9题
对于一个正态总体X~N(μ,σ2),已知总体方差σ2,检验假设H0:μ=μ0(μ0已知)时,采用()检验法。
A. u
B. t
C. F
D. χ2
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