A.接触模式
B.非接触模式
C.敲击模式
D.以上三种均可
第1题
第2题
B.恒电流测量模式
C.接触测量模式
D.非接触测量模式
第3题
B、非接触式
C、轻敲式
D、反射式
第4题
B:可以对导电样品或非导电样品进行观测
C:利用硅悬臂上的硅针尖进行扫描
D:探测针尖和样品之间作用力变化所导致的悬臂弯曲或偏转
第5题
第6题
此题为判断题(对,错)。
第7题
第8题
第9题
B:探针与样品的距离小于1nm
C:针尖与样品有轻微的物理接触
D:针尖与悬臂受范德瓦尔斯力和毛细力两种力的作用
第10题
A.微分干涉显微镜
B.相差显微镜
C.扫描电子显微镜
D.透射电子显微镜
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