第3题
一般情况下,电子元器件的寿命试验属于()。
A.非破坏性检验
B.破坏性检验
C.全数检验
D.感官检验
第4题
一般情况下,电子元器件的寿命试验属于()。
A.非破坏性检验
B.破坏性检验
C.全数检验
D.感官检验
第10题
A.破坏性检验,不能采取全数检验方式
B.全数检验有时需要花很大成本,在经济上不一定合算
C.检验需要时间,采取全数检验方式有时在时间上不允许
D.即使进行全数检验,也不一定能绝对保证100%的合格品
E.工程款中包含此项费用,不得不进行抽样检验
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